薄膜測厚儀ST2000
產品名稱：光學薄膜測厚儀ST2000
產品型號：
詳細信息
產品簡介：
使用K-MAC公司的先進光譜系統，可以很快、很容易地測量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系數。簡單地將K-MAC系統插入您電腦的USB口，并開始進行測量。整個系統只需要幾分鐘來搭建，而測量過程也僅需要基礎的電腦知識。
產品特征：
1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量 3層以內的多層膜。
5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學,研究室等
1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量 3層以內的多層膜。
5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學,研究室等
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